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    CIF-TEM透射電鏡樣品桿清洗機

    CIF 透射電鏡(TEM)樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源 設計,清洗快速高效, 低轟擊損傷, 同時可實現常規等離子清洗。 主要用于 TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。

    時間:2024-03-26型號:CIF-TEM訪問量:2588
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